テストソリューション
これまでの自社製品開発にて培った技術に基づき、テスト手法のご提案から治具・プログラムの環境開発まで、お客様のご要望にお応えするトータルなサービスを提供いたします。
テストシステム、プログラム作成、治具作成など、テストにまつわる総合力を連携してサービス提供いたします。
低速から高速まで多様なテスタに対応しております。
製品品質と開発コストを両立した最適なテストシステムを具現化し、ご提案いたします。
お客様との事業開始時より、お客様ごとにプログラムのカスタマイズ化を推進いたします。このカスタマイズシステムにより2回目以降の業務では、大幅なコストダウンが可能です。
品質を向上させるための体制・設備でサービスを提供いたします。統合シミュレーション環境を保有することにより、持続的な品質の向上を実践いたします。
お客様のニーズに最適なパートナーの選択と適正な部材調達、業務の効率化により、コストメリットを創出いたします。
テスト手法のご提案から治具・プログラムの環境開発まで一貫対応しています。
| IP | 実績（max） | テストITEM |
|---|---|---|
| ADC/DAC | 12bit-40Msps 6bit-600Msps |
Ramp Linearity,THD,ENOB SINAD,BER,etc |
| PLL | 600MHz | Frequency Count Jitter（p-p,ST,LT,etc） |
| DLL | 500MHz（45ps/tap） | Delay Tap Linearity |
| 高速シリアルI/F | USB2.0（480Mbps） LVDS（1.0Gbps） SATA（3.0Gbps） PCle（2.5Gbps） |
Neary Compliance Test At Speed Function （※BOST 実装含む） |
| 高速パラレルI/F （※Controller Device） |
mDDR（500Mbps） DDR2（666Mbps） |
| DUT仕様 | 実績（max） | テストITEM |
|---|---|---|
| Pin（Pad）数 | 2000 Pin（Pad） | IO DC |
| Gate 規模 | 1000万 Gate | DFT(SCAN,BIST,etc) FUNCTION |
| 動作周波数 | 500MHz | |
| Power | 5.0W | IDD（Dynamic,Static） |
| テスタ | |
|---|---|
| アドバンテスト | T66xx,T65xx,T2000,T33xx |
| テラダイン | IP750,J750,Ultra Flex |
| Verigy | 93k |